SR540光學(xué)斬波器

產(chǎn)品簡介
4 Hz 至 3.7 kHz 斬波頻率
低相位抖動
單光束和雙光束實驗
和差參考輸出
螺栓夾或桿安裝

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-09-17

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

電學(xué)測試儀表

數(shù)字源表 SRS電學(xué)儀表信號分析儀 5G無線測試平臺微波網(wǎng)絡(luò)分析儀誤碼儀示波器半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

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SR540 光斬波器

單光束實驗

SR540 斬波器可滿足您的所有光學(xué)斬波要求，從簡單的測量到雙光束和互調(diào)實驗。SR540 具有 4 位頻率顯示、前面板頻率控制、模擬電壓頻率控制和兩個具有可選工作模式的參考輸出。提供兩種陽極氧化鋁刀片：一個 5/6 槽刀片用于頻率高達(dá) 400 Hz，一個 25/30 槽刀片用于頻率高達(dá) 3.7 kHz。為每排時隙對應(yīng)的頻率以及和頻和差頻提供參考輸出。

光斬波器應(yīng)用

單光束實驗

在此應(yīng)用中，單個光束被外排插槽斬波，右側(cè)BNC的參考輸出用于將鎖相放大器鎖定到斬波頻率。也可以使用內(nèi)行插槽，在這種情況下，左側(cè)BNC將是參考輸出。無論哪種情況，REFERENCE MODE 開關(guān)都處于“向上"位置。

雙光束實驗

在這種布置中，來自單個源的輸出被兩排斬波器插槽以兩個不同的頻率進(jìn)行分離和斬波。一束光束穿過實驗，另一束用作參考光束。光束被重新組合并發(fā)送到同一個探測器。兩個鎖相用于檢測?內(nèi)，對應(yīng)于實驗信號，以及?外，對應(yīng)于參考光束。如果實驗臂中檢測到的信號與控制臂中檢測到的信號成正比，則由于源強(qiáng)度和檢測器效率變化而產(chǎn)生的影響將被消除。

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